还不了解淬火层测厚仪（yí）？看（kàn）这里（lǐ）！

　　

　　仪器有涡流测（cè）厚（hòu）原理和磁性测厚原理之分（fèn），磁性法测量厚度受基体金属性变化的影响(在实际应用（yòng）中，低碳（tàn）钢磁性的变化可认为是轻微的)，为了避免热处理和冷（lěng）加工（gōng）因素的影响，应使用与试件（jiàn）基体金属具有相同性质的标准片对仪器（qì）进行校准;基体金属的电导率对测量有影响，而基体金属的（de）电导率与其材料成份及热处理方法有关。

　　

　　淬火层测厚仪的使（shǐ）用与（yǔ）试件基体金（jīn）属具有相同性质的标准片对仪器进行校准，每一种仪器都有一个（gè）临界厚度，大于（yú）这个厚度，测量就不受基体金属厚度的影响（xiǎng）；对试件表面形状的陡变敏感，因此在靠近试件边缘或（huò）内转角处进（jìn）行测量是（shì）不可靠（kào）的（de）;试件的曲（qǔ）率对测量有影响，随（suí）着曲率（lǜ）半径的减少明显地增大，因此，在（zài）弯曲试件的表面上测量也（yě）是不可靠的;探头（tóu）会使软涂层试件变形，因此在（zài）这些试件上测不出可靠的数据;基体（tǐ）金属和涂层的表面粗糙度对测量有影响。

　　

　　高频交流信号在探（tàn）头（tóu）线圈中产生电磁场，探头靠近（jìn）导体时，就在其中形成涡流。探头离导电基体愈近，则涡流（liú）愈大，反射阻（zǔ）抗也愈大。这个反馈作用（yòng）量表征了探（tàn）头与导电基体之间距（jù）离的大（dà）小，也就是导电基（jī）体上（shàng）非（fēi）导电涂（tú）层厚度的大小。由于这类涂层测厚仪探（tàn）头专门测量非铁磁金属基体上的涂层厚度，所以通常称为（wéi）非磁性探（tàn）头。